AEC-Q101 ist eine Spezifikation, die die minimalen, durch Stress Tests getriebenen Qualifikationsanforderungen definiert und Testbedingungen für diskrete Halbleiter, die in Automobilanwendungen verwendet werden, referenziert. Diese Spezifikation wurde vom Automotive Electronics Council (AEC) entwickelt, einer Organisation, die gemeinsame Teil-Qualifikations- und Qualitätssystemstandards festlegt.
Der Zweck von AEC-Q101 besteht darin, zu bestimmen, ob ein diskretes Halbleitergerät in der Lage ist, eine definierte Reihe von Stress Tests zu bestehen, um ein spezifiziertes Qualitäts- und Zuverlässigkeitsniveau für Automobilanwendungen zu gewährleisten. Die Spezifikation skizziert die minimalen, durch Stress Tests getriebenen Qualifikationsanforderungen und entbindet den Lieferanten nicht von seiner Verantwortung, sein eigenes internes Qualifikationsprogramm oder zusätzliche Benutzeranforderungen außerhalb des Geltungsbereichs von AEC-Q101 zu erfüllen.
AEC-Q101 gilt für diskrete Halbleiter wie Transistoren, Dioden und andere nicht integrierte Schaltkreisgeräte, die in der Automobil-Elektronik verwendet werden. Der minimale Umgebungstemperaturbereich für diese Geräte liegt bei -40°C bis +125°C, außer für LEDs, die einen minimalen Bereich von -40°C bis +85°C haben.
Das AEC-Q101-Dokument ist in mehrere Hauptabschnitte gegliedert:
Der Abschnitt Allgemeine Anforderungen skizziert das Ziel, die Vorrangigkeit der Anforderungen und die Verwendung generischer Daten zur Erfüllung der Qualifikations- und Requalifikationsanforderungen. Er definiert auch Testmuster, Ausfallkriterien und Akzeptanzkriterien.
Der Abschnitt Qualifikation und Requalifikation beschreibt den Prozess zur Qualifikation eines neuen Geräts, zur Requalifikation eines geänderten Geräts und die Kriterien für das Bestehen der Requalifikation. Es werden auch die Anforderungen für die Endbenutzerzulassung umrissen.
Der Abschnitt Qualifikationstests definiert die allgemeinen und gerätespezifischen Tests, die für die Qualifikation durchgeführt werden müssen. Diese Tests umfassen verschiedene Belastungstests wie Hochtemperatur-Rückwärtsbias, Temperaturzyklen und Charakterisierung der elektrostatischen Entladung.
Der Abschnitt zur Datenübermittlungsformat spezifiziert, wie die Qualifikationstestdaten präsentiert werden sollen, einschließlich der Verwendung einer Umwelttestzusammenfassung und einer parametrischen Verifizierungszusammenfassung.
AEC-Q101 umfasst mehrere Anhänge, die zusätzliche Informationen und Anleitungen bieten:
Das Dokument enthält auch Anhänge, die spezifische Testmethoden beschreiben:
AEC-Q101 ist eine umfassende Spezifikation, die die Stress Test Qualifikationsanforderungen für diskrete Halbleiter, die in Automobilanwendungen verwendet werden, festlegt. Durch die Befolgung dieser Spezifikation können Lieferanten sicherstellen, dass ihre Geräte die notwendigen Qualitäts- und Zuverlässigkeitsstandards für das anspruchsvolle Automobilumfeld erfüllen. Ingenieure, die mit Automobil-Elektronik arbeiten, sollten mit AEC-Q101 und seinen Anforderungen vertraut sein, um geeignete diskrete Halbleiterkomponenten für ihre Entwürfe auszuwählen und zu qualifizieren.