AEC-Q101 ist eine Spezifikation, die die Mindestanforderungen für stresstestbasierte Qualifikationen definiert und Testbedingungen für diskrete Halbleiter referenziert, die in Automobilanwendungen verwendet werden. Diese Spezifikation wurde vom Automotive Electronics Council (AEC) entwickelt, einer Organisation, die gemeinsame Standards für Bauteilqualifikation und Qualitätssysteme festlegt.
Der Zweck von AEC-Q101 besteht darin, festzustellen, ob ein diskretes Halbleiterbauelement in der Lage ist, einen definierten Satz von Belastungstests zu bestehen, um ein spezifiziertes Qualitäts- und Zuverlässigkeitsniveau für Automobilanwendungen zu gewährleisten. Die Spezifikation beschreibt die Mindestanforderungen an die Qualifizierung durch Belastungstests und entbindet den Lieferanten nicht von seiner Verantwortung, sein eigenes internes Qualifizierungsprogramm oder zusätzliche Benutzeranforderungen außerhalb des Geltungsbereichs von AEC-Q101 zu erfüllen.
AEC-Q101 gilt für diskrete Halbleiter wie Transistoren, Dioden und andere nicht integrierte Schaltungsbauelemente, die in der Automobilelektronik verwendet werden. Der minimale Umgebungstemperaturbereich für diese Geräte beträgt -40°C bis +125°C, mit Ausnahme von LEDs, die einen Mindestbereich von -40°C bis +85°C haben.
Das AEC-Q101-Dokument ist in mehrere Hauptabschnitte gegliedert:
Mikrocontroller (MCUs) sind kompakte integrierte Schaltkreise, die dazu bestimmt sind, einen kleinen Teil eines größeren Systems zu steuern, typischerweise in eingebetteten Anwendungen. Sie kombinieren einen Prozessorkern mit Speicher (sowohl Programm- als auch Datenspeicher) und Peripheriegeräten auf einem einzigen Chip und bieten eine Möglichkeit, Geräte und Prozesse basierend auf Eingabewerten und vorprogrammierten Algorithmen zu steuern.
Der Abschnitt Qualifizierung und Requalifizierung beschreibt den Prozess zur Qualifizierung eines neuen Geräts, zur Requalifizierung eines geänderten Geräts und die Kriterien für das Bestehen der Requalifizierung. Er beschreibt auch die Anforderungen für die Genehmigung durch den Endbenutzer.
Der Abschnitt Qualifikationstests definiert die allgemeinen und gerätespezifischen Tests, die für die Qualifizierung durchgeführt werden müssen. Diese Tests umfassen verschiedene Belastungstests wie Hochtemperatur-Sperrvorspannung, Temperaturwechsel und Charakterisierung der elektrostatischen Entladung.
Der Abschnitt zum Datenübermittlungsformat spezifiziert, wie die Qualifikationstestdaten präsentiert werden sollten, einschließlich der Verwendung einer Zusammenfassung der Umwelttests und einer Zusammenfassung der parametrischen Verifizierung.
AEC-Q101 enthält mehrere Anhänge, die zusätzliche Informationen und Anleitungen bieten:
Das Dokument enthält auch Anhänge, die spezifische Testmethoden beschreiben:
AEC-Q101 ist eine umfassende Spezifikation, die die Qualifikationsanforderungen für Stresstests für diskrete Halbleiter in Automobilanwendungen beschreibt. Durch die Einhaltung dieser Spezifikation können Lieferanten sicherstellen, dass ihre Geräte die erforderlichen Qualitäts- und Zuverlässigkeitsstandards für die anspruchsvolle Automobilumgebung erfüllen. Ingenieure, die mit Automobilelektronik arbeiten, sollten mit AEC-Q101 und seinen Anforderungen vertraut sein, um geeignete diskrete Halbleiterbauteile für ihre Designs auszuwählen und zu qualifizieren.