AEC-Q101 est une spécification qui définit les exigences minimales de qualification basées sur des tests de stress et référence les conditions de test pour les semi-conducteurs discrets utilisés dans les applications automobiles. Cette spécification a été développée par le Conseil de l'Électronique Automobile (AEC), une organisation qui établit des normes communes de qualification de composant et de systèmes de qualité.
Le but de AEC-Q101 est de déterminer si un dispositif semi-conducteur discret est capable de passer un ensemble défini de tests de stress pour garantir un niveau de qualité et de fiabilité spécifié pour les applications automobiles. La spécification décrit les exigences minimales de qualification basées sur des tests de stress et ne décharge pas le fournisseur de sa responsabilité de répondre à son propre programme de qualification interne ou à toute exigence supplémentaire de l'utilisateur en dehors du champ d'application de AEC-Q101.
AEC-Q101 s'applique aux semi-conducteurs discrets tels que les transistors, les diodes et autres dispositifs non intégrés utilisés dans l'électronique automobile. La plage de température ambiante minimale pour ces dispositifs est de -40°C à +125°C, sauf pour les LED, qui ont une plage minimale de -40°C à +85°C.
Le document AEC-Q101 est structuré en plusieurs sections principales :
La section des exigences générales décrit l'objectif, la prééminence des exigences et l'utilisation de données génériques pour satisfaire les exigences de qualification et de requalification. Elle définit également les échantillons de test, les critères de défaillance et les critères d'acceptation.
La section de qualification et de requalification décrit le processus de qualification d'un nouveau dispositif, la requalification d'un dispositif modifié et les critères de réussite de la requalification. Elle décrit également les exigences pour l'approbation de l'utilisateur final.
La section des tests de qualification définit les tests généraux et spécifiques au dispositif qui doivent être effectués pour la qualification. Ces tests incluent divers tests de stress tels que le biais inverse à haute température, le cyclage thermique et la caractérisation de décharge électrostatique.
La section du format de soumission des données spécifie comment les données des tests de qualification doivent être présentées, y compris l'utilisation d'un résumé des tests environnementaux et d'un résumé de vérification paramétrique.
AEC-Q101 comprend plusieurs annexes qui fournissent des informations supplémentaires et des orientations :
Le document comprend également des pièces jointes qui décrivent des méthodes de test spécifiques :
AEC-Q101 est une spécification complète qui décrit les exigences de qualification par tests de stress pour les semi-conducteurs discrets utilisés dans les applications automobiles. En suivant cette spécification, les fournisseurs peuvent s'assurer que leurs dispositifs répondent aux normes de qualité et de fiabilité nécessaires pour l'environnement automobile exigeant. Les ingénieurs travaillant avec l'électronique automobile doivent être familiers avec AEC-Q101 et ses exigences pour sélectionner et qualifier les composants semi-conducteurs discrets appropriés pour leurs conceptions.