AEC-Q101 is een specificatie die de minimale stress-test-gedreven kwalificatie-eisen definieert en verwijst naar testcondities voor discrete halfgeleiders die worden gebruikt in automotive toepassingen. Deze specificatie is ontwikkeld door de Automotive Electronics Council (AEC), een organisatie die gemeenschappelijke standaarden voor componentkwalificatie en kwaliteitssystemen vaststelt.
Het doel van AEC-Q101 is om te bepalen of een discreet halfgeleiderapparaat in staat is om een gedefinieerde reeks stresstests te doorstaan om een gespecificeerd kwaliteits- en betrouwbaarheidsniveau voor automobieltoepassingen te garanderen. De specificatie schetst de minimale vereisten voor kwalificatie op basis van stresstests en ontslaat de leverancier niet van zijn verantwoordelijkheid om te voldoen aan zijn eigen interne kwalificatieprogramma of eventuele aanvullende gebruikersvereisten buiten het toepassingsgebied van AEC-Q101.
AEC-Q101 is van toepassing op discrete halfgeleiders zoals transistoren, diodes en andere niet-geïntegreerde circuitapparaten die worden gebruikt in auto-elektronica. Het minimale omgevingstemperatuurbereik voor deze apparaten is -40°C tot +125°C, behalve voor LED's, die een minimaal bereik hebben van -40°C tot +85°C.
Het AEC-Q101 document is gestructureerd in verschillende hoofdsecties:
Microcontrollers (MCU's) zijn compacte geïntegreerde circuits die zijn ontworpen om een klein deel van een groter systeem te besturen, meestal in embedded toepassingen. Ze combineren een processorkern met geheugen (zowel programma- als datageheugen) en randapparatuur op een enkele chip, en bieden een manier om apparaten en processen te besturen op basis van invoermetingen en voorgeprogrammeerde algoritmen.
De sectie kwalificatie en herkwalificatie beschrijft het proces voor het kwalificeren van een nieuw apparaat, het herkwalificeren van een gewijzigd apparaat en de criteria voor het slagen voor herkwalificatie. Het schetst ook de vereisten voor goedkeuring door de eindgebruiker.
De sectie kwalificatietests definieert de algemene en apparaatspecifieke tests die moeten worden uitgevoerd voor kwalificatie. Deze tests omvatten verschillende stresstests zoals hoge temperatuur omgekeerde bias (HTRB), temperatuurcycli en karakterisering van elektrostatische ontlading.
De sectie over het formaat voor gegevensindiening specificeert hoe de kwalificatietestgegevens moeten worden gepresenteerd, inclusief het gebruik van een samenvatting van de milieutest en een samenvatting van de parametrische verificatie.
AEC-Q101 bevat verschillende bijlagen die aanvullende informatie en richtlijnen bieden:
Het document bevat ook bijlagen die specifieke testmethoden beschrijven:
AEC-Q101 is een uitgebreide specificatie die de kwalificatievereisten voor stresstests schetst voor discrete halfgeleiders die in automobieltoepassingen worden gebruikt. Door deze specificatie te volgen, kunnen leveranciers ervoor zorgen dat hun apparaten voldoen aan de noodzakelijke kwaliteits- en betrouwbaarheidsnormen voor de veeleisende automobielomgeving. Ingenieurs die met auto-elektronica werken, moeten bekend zijn met AEC-Q101 en de vereisten ervan om geschikte discrete halfgeleidercomponenten voor hun ontwerpen te selecteren en te kwalificeren.