AEC-Q101 is een specificatie die de minimale stress-testgedreven kwalificatievereisten definieert en testcondities voor discrete halfgeleiders gebruikt in automotive toepassingen refereert. Deze specificatie is ontwikkeld door de Automotive Electronics Council (AEC), een organisatie die gemeenschappelijke kwalificatie- en kwaliteitssysteemnormen vaststelt.
Het doel van AEC-Q101 is om te bepalen of een discrete halfgeleiderapparaat in staat is om een gedefinieerde reeks stress-tests te doorstaan om een gespecificeerd kwaliteits- en betrouwbaarheidsniveau voor automotive toepassingen te waarborgen. De specificatie schetst de minimale stress-testgedreven kwalificatievereisten en ontslaat de leverancier niet van hun verantwoordelijkheid om aan hun eigen interne kwalificatieprogramma of eventuele aanvullende gebruikersvereisten buiten de reikwijdte van AEC-Q101 te voldoen.
AEC-Q101 is van toepassing op discrete halfgeleiders zoals transistors, diodes en andere niet-geïntegreerde circuitapparaten die worden gebruikt in automotive elektronica. Het minimale omgevingstemperatuurbereik voor deze apparaten is -40°C tot +125°C, behalve voor LEDs, die een minimale bereik van -40°C tot +85°C hebben.
Het AEC-Q101 document is gestructureerd in verschillende hoofdsecties:
Het gedeelte over algemene vereisten schetst het doel, de voorrang van vereisten en het gebruik van generieke gegevens om aan kwalificatie- en herkwalificatievereisten te voldoen. Het definieert ook testmonsters, faalcriteria en acceptatiecriteria.
Het gedeelte over kwalificatie en herkwalificatie beschrijft het proces voor het kwalificeren van een nieuw apparaat, het herkwalificeren van een gewijzigd apparaat en de criteria voor het slagen voor herkwalificatie. Het schetst ook de vereisten voor goedkeuring door de eindgebruiker.
Het gedeelte over kwalificatietests definieert de algemene en apparaatspecifieke tests die moeten worden uitgevoerd voor kwalificatie. Deze tests omvatten verschillende stress-tests zoals hoge-temperatuur omgekeerde bias, temperatuurcycli en elektrostatische ontlading karakterisering.
Het gedeelte over de indieningsformat van gegevens specificeert hoe de kwalificatietestgegevens gepresenteerd moeten worden, inclusief het gebruik van een samenvatting van milieutests en een samenvatting van parametrische verificatie.
AEC-Q101 bevat verschillende bijlagen die aanvullende informatie en begeleiding bieden:
Het document bevat ook bijlagen die specifieke testmethoden beschrijven:
AEC-Q101 is een uitgebreide specificatie die de stress-test kwalificatievereisten voor discrete halfgeleiders gebruikt in automotive toepassingen schetst. Door deze specificatie te volgen, kunnen leveranciers ervoor zorgen dat hun apparaten voldoen aan de noodzakelijke kwaliteits- en betrouwbaarheidsnormen voor de veeleisende automotive omgeving. Ingenieurs die werken met automotive elektronica moeten bekend zijn met AEC-Q101 en de vereisten om geschikte discrete halfgeleidercomponenten voor hun ontwerpen te selecteren en te kwalificeren.