AEC-Q101 es una especificación que define los requisitos mínimos de calificación impulsados por pruebas de estrés y hace referencia a las condiciones de prueba para semiconductores discretos utilizados en aplicaciones automotrices. Esta especificación fue desarrollada por el Automotive Electronics Council (AEC), una organización que establece estándares comunes de calificación de componentes y sistemas de calidad.
El propósito de AEC-Q101 es determinar si un dispositivo semiconductor discreto es capaz de pasar un conjunto definido de pruebas de estrés para garantizar un nivel de calidad y fiabilidad especificado para aplicaciones automotrices. La especificación describe los requisitos mínimos de calificación impulsados por pruebas de estrés y no exime al proveedor de su responsabilidad de cumplir con su propio programa de calificación interno o cualquier requisito adicional del usuario fuera del alcance de AEC-Q101.
AEC-Q101 se aplica a semiconductores discretos como transistores, diodos y otros dispositivos de circuito no integrado utilizados en la electrónica automotriz. El rango mínimo de temperatura ambiente para estos dispositivos es de -40°C a +125°C, excepto para los LED, que tienen un rango mínimo de -40°C a +85°C.
El documento AEC-Q101 está estructurado en varias secciones principales:
La sección de requisitos generales describe el objetivo, la precedencia de los requisitos y el uso de datos genéricos para satisfacer los requisitos de calificación y recalificación. También define muestras de prueba, criterios de fallo y criterios de aceptación.
La sección de calificación y recalificación describe el proceso para calificar un nuevo dispositivo, recalificar un dispositivo modificado y los criterios para aprobar la recalificación. También describe los requisitos para la aprobación del usuario final.
La sección de pruebas de calificación define las pruebas generales y específicas del dispositivo que deben realizarse para la calificación. Estas pruebas incluyen varias pruebas de estrés como polarización inversa a alta temperatura, ciclos de temperatura y caracterización de descarga electrostática.
La sección de formato de envío de datos especifica cómo deben presentarse los datos de prueba de calificación, incluido el uso de un resumen de prueba ambiental y un resumen de verificación paramétrica.
AEC-Q101 incluye varios apéndices que proporcionan información y orientación adicional:
El documento también incluye adjuntos que describen métodos de prueba específicos:
AEC-Q101 es una especificación integral que describe los requisitos de calificación de pruebas de estrés para semiconductores discretos utilizados en aplicaciones automotrices. Al seguir esta especificación, los proveedores pueden garantizar que sus dispositivos cumplan con los estándares de calidad y fiabilidad necesarios para el exigente entorno automotriz. Los ingenieros que trabajan con electrónica automotriz deben estar familiarizados con AEC-Q101 y sus requisitos para seleccionar y calificar los componentes semiconductores discretos apropiados para sus diseños.