AEC-Q101 es una especificación que define los requisitos mínimos de calificación impulsados por pruebas de estrés y hace referencia a las condiciones de prueba para semiconductores discretos utilizados en aplicaciones automotrices. Esta especificación fue desarrollada por el Consejo de Electrónica Automotriz (AEC), una organización que establece estándares comunes de calificación de componentes y sistemas de calidad.
El propósito de AEC-Q101 es determinar si un dispositivo de semiconductor discreto es capaz de pasar un conjunto definido de pruebas de estrés para asegurar un nivel especificado de calidad y fiabilidad para aplicaciones automotrices. La especificación describe los requisitos mínimos de calificación impulsados por pruebas de estrés y no exime al proveedor de su responsabilidad de cumplir con su propio programa de calificación interna o cualquier requisito adicional del usuario fuera del alcance de AEC-Q101.
AEC-Q101 se aplica a semiconductores discretos como transistores, diodos y otros dispositivos que no son circuitos integrados utilizados en electrónica automotriz. El rango de temperatura ambiente mínimo para estos dispositivos es de -40°C a +125°C, excepto para los LED, que tienen un rango mínimo de -40°C a +85°C.
El documento AEC-Q101 está estructurado en varias secciones principales:
La sección de requisitos generales describe el objetivo, la precedencia de los requisitos y el uso de datos genéricos para satisfacer los requisitos de calificación y recalificación. También define las muestras de prueba, los criterios de falla y los criterios de aceptación.
La sección de calificación y recalificación describe el proceso para calificar un nuevo dispositivo, recalificar un dispositivo cambiado y los criterios para pasar la recalificación. También describe los requisitos para la aprobación del usuario final.
La sección de pruebas de calificación define las pruebas generales y específicas del dispositivo que deben realizarse para la calificación. Estas pruebas incluyen varias pruebas de estrés como sesgo inverso a alta temperatura, ciclado de temperatura y caracterización de descarga electrostática.
La sección de formato de presentación de datos especifica cómo se deben presentar los datos de prueba de calificación, incluido el uso de un resumen de prueba ambiental y un resumen de verificación paramétrica.
AEC-Q101 incluye varios apéndices que proporcionan información adicional y orientación:
El documento también incluye adjuntos que describen métodos de prueba específicos:
AEC-Q101 es una especificación completa que describe los requisitos de calificación de prueba de estrés para semiconductores discretos utilizados en aplicaciones automotrices. Al seguir esta especificación, los proveedores pueden asegurar que sus dispositivos cumplan con los estándares de calidad y fiabilidad necesarios para el exigente entorno automotriz. Los ingenieros que trabajan con electrónica automotriz deben estar familiarizados con AEC-Q101 y sus requisitos para seleccionar y calificar los componentes de semiconductores discretos apropiados para sus diseños.