AEC-Q101 er en specifikation, der definerer de minimale stress test-drevne kvalifikationskrav og henviser til testbetingelser for diskrete halvledere, der anvendes i automotive applikationer. Denne specifikation blev udviklet af Automotive Electronics Council (AEC), en organisation, der fastsætter fælles kvalifikations- og kvalitetssystemstandarder.
Formålet med AEC-Q101 er at afgøre, om en diskret halvlederenhed er i stand til at bestå et defineret sæt stress tests for at sikre et specificeret kvalitets- og pålidelighedsniveau for automotive applikationer. Specifikationen skitserer de minimale stress test-drevne kvalifikationskrav og fritager ikke leverandøren for deres ansvar for at opfylde deres eget interne kvalifikationsprogram eller eventuelle yderligere brugerkrav uden for AEC-Q101's anvendelsesområde.
AEC-Q101 gælder for diskrete halvledere som transistorer, dioder og andre ikke-integrerede kredsløbsenheder, der anvendes i automotive elektronik. Det minimale omgivelsestemperaturområde for disse enheder er -40°C til +125°C, undtagen for LED'er, som har et minimalt område på -40°C til +85°C.
AEC-Q101-dokumentet er struktureret i flere hovedafsnit:
Afsnittet om generelle krav skitserer målet, kravenes forrang og brugen af generiske data til at opfylde kvalifikations- og rekvalifikationskrav. Det definerer også testprøver, fejlkriterier og acceptkriterier.
Kvalifikations- og rekvalifikationsafsnittet beskriver processen for at kvalificere en ny enhed, rekvalificere en ændret enhed og kriterierne for at bestå rekvalifikation. Det skitserer også kravene til godkendelse fra slutbrugeren.
Afsnittet om kvalifikationstests definerer de generelle og enhedsspecifikke tests, der skal udføres for kvalifikation. Disse tests inkluderer forskellige stress tests såsom højtemperatur omvendt bias, temperaturcykling og karakterisering af elektrostatisk udladning.
Afsnittet om format for indsendelse af data specificerer, hvordan kvalifikationstestdata skal præsenteres, herunder brugen af et miljøtestresumé og et parametrisk verifikationsresumé.
AEC-Q101 indeholder flere bilag, der giver yderligere information og vejledning:
Dokumentet inkluderer også vedhæftninger, der beskriver specifikke testmetoder:
AEC-Q101 er en omfattende specifikation, der skitserer kravene til stress test kvalifikation for diskrete halvledere, der anvendes i automotive applikationer. Ved at følge denne specifikation kan leverandører sikre, at deres enheder opfylder de nødvendige kvalitets- og pålidelighedsstandarder for det krævende automotive miljø. Ingeniører, der arbejder med automotive elektronik, bør være bekendt med AEC-Q101 og dets krav for at vælge og kvalificere passende diskrete halvlederkomponenter til deres design.